一种太赫兹时域光谱BRDF测量系统及方法

AITNT
正文
推荐专利
一种太赫兹时域光谱BRDF测量系统及方法
申请号:CN202411705902
申请日期:2024-11-26
公开号:CN119534323A
公开日期:2025-02-28
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种太赫兹时域光谱BRDF测量系统及方法,系统的发射天线和接收天线分别用于发射太赫兹波和接收太赫兹波回波,六轴式机械臂用于支撑并调节待测材料的测试角度,第一离轴抛物面镜相对发射天线固定,用于将发射天线出射的太赫兹波转换为平行波束照射到待测材料,第二离轴抛物面镜相对接收天线固定,且能够围绕六轴式机械臂发生圆周运动,用于将待测材料反射的太赫兹波回波反射至接收天线,控制器用于采集待测材料的半球空间角度的太赫兹波的回波信号,通过处理分析得到待测材料的双向反射分布函数。该测量系统通过简单的结构,实现待测材料的半球空间角度的太赫兹波回波信号采集,进而实现待测材料的双向反射分布函数。测量方法操作方便。
技术关键词
离轴抛物面镜 待测材料 发射天线 环形滑轨 机械臂 回波 测量方法 控制器 基座 波束 信号 链路 光纤 金属板 激光 工作台 电机 地面
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号