一种局部放电测量能力验证电路及测试方法

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正文
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一种局部放电测量能力验证电路及测试方法
申请号:CN202411706086
申请日期:2024-11-26
公开号:CN119335340A
公开日期:2025-01-21
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种局部放电测量能力验证电路及测试方法,局部放电测试技术领域,能力验证电路包括电源、稳压电路、方波输出电路、电阻分压器和电容器,稳压电路的输入端连接电源,稳压电路的输出端连接方波输出电路的输入端,方波输出电路的输出端连接电阻分压器的输入端,电阻分压器输出端与电容器的一端连接,电容器的另一端为能力验证电路的输出端,电阻分压器设置第一校准档位和第二测量档位。本发明填补了局部放电测量能力验证的空白,解决了现在无局部放电测量能力验证测试方法和样品,市场存在的样品均为多功能型,可视化的选择库伦量反而不能满足能力验证要求的问题,结构简单、稳定性强、所有元件全部密封,无界面显示。
技术关键词
电阻分压器 校准器 稳压电路 验证测试方法 电容器 耦合装置 输入端 档位 局部放电测试技术 稳压器 低压 多谐振荡器电路 输出端 反相器 NE555芯片 背景噪声水平
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沪ICP备2023015588号