芯片版图的图形尺寸测量方法、装置、设备、介质及产品

本申请公开了一种芯片版图的图形尺寸测量方法、装置、设备、介质及产品，涉及电子设计自动化技术领域。该芯片版图的图形尺寸测量方法包括：获取芯片版图的测量参数配置信息；根据测量参数配置信息，生成与芯片版图对应的第一测量用例；根据第一测量用例，对芯片版图中对应的图形进行尺寸测量，得到第一测量用例对应的测量结果。