芯片热阻的测量方法、系统、装置及储存介质

本发明涉及电子元件测量技术领域，公开了一种芯片热阻的测量方法、系统、装置及储存介质，所述方法包括获取热图像数据、对热图像数据进行去噪处理、构建芯片热阻函数、芯片热阻测试、获取芯片热阻标准值及测试结果分析。本方法通过精准的稳态热阻测试，有效提升芯片的热阻测量精度，优化热管理性能，解决了传统测量中精度不足、热阻特性描述不准确的问题。与现有技术相比，该方法高效、准确、快速地测量芯片热阻，提高了器件热管理的效率和可靠性。