光模块故障检测方法、电子设备、存储介质及程序产品

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光模块故障检测方法、电子设备、存储介质及程序产品
申请号:CN202411709621
申请日期:2024-11-26
公开号:CN119483738A
公开日期:2025-02-18
类型:发明专利
摘要
本申请实施例提供一种光模块故障检测方法、设备、存储介质及程序产品。该方法包括:获取目标光模块的目标参数的参数时间序列,其中,所述目标参数包括输入光功率和输出光功率;将所述参数时间序列输入到预先训练的长短期记忆模型,由所述长短期记忆模型对所述参数时间序列进行处理,得到所述目标光模块的故障检测结果。可以达到对光模块的故障进行预测,以避免由于光模块故障引起的网络中断、服务性能下降的问题。
技术关键词
长短期记忆模型 光模块 参数 计算机执行指令 故障类别 历史故障信息 序列 端口 网络设备 光功率 输出光 故障检测设备 故障检测装置 周期性 可读存储介质 处理器 存储器 无故障
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