一种半导体钴制程CMP后清洗液、其制备方法与应用

AITNT
正文
推荐专利
一种半导体钴制程CMP后清洗液、其制备方法与应用
申请号:CN202411710006
申请日期:2024-11-27
公开号:CN119193245B
公开日期:2025-04-04
类型:发明专利
摘要
本发明提供一种半导体钴制程CMP后清洗液、其制备方法与应用,半导体钴制程CMP后清洗液,包括重量配比如下的各组分:环糊精PEG氨基酸类化合物1‑15份;缓蚀剂0.1‑1份;磷酸酯类化合物5‑15份;有机弱碱10‑20份;超纯水60‑80份。本发明还公开了半导体钴制程CMP后清洗液的制备方法,及其在半导体芯片清洗领域的应用。本发明半导体钴制程CMP后清洗液不含强碱、强酸,仍能有效清除有机残留物、颗粒等污染物,且对芯片无腐蚀。本发明半导体钴制程CMP后清洗液对清洗工艺无特殊要求,仅在浸泡的工艺下,即可使芯片上所粘附的有机污染物、各种颗粒洗脱完全,后续仅经过纯水冲洗即可,水洗后无脏污残留。
技术关键词
清洗液 氨基酸类化合物 磷酸酯类化合物 制程 脂肪醇聚氧乙烯醚磷酸酯 聚乙二醇 清洗半导体芯片 半导体芯片清洗 超纯水 缓蚀剂 烷基酚聚氧乙烯醚 异羟肟酸 谷氨酸 异丙醇胺 清洗工艺 丁酰胺 无腐蚀 咪唑
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号