一种集成电路的测试系统

本发明公开了一种集成电路的测试系统，涉及集成电路技术领域，包括电源模块，用于供电控制；测试控制模块，用于信号接收和模块控制；集成电路模块，用于在工作状态时，提供待检测的第一控制信号；信号处理模块，用于信号采样和信号保持工作；电压趋势检测模块，用于在第一控制信号为电压下降趋势时，控制通路切换模块切换信号传输通路；通路切换模块，用于传输信号处理模块保持的信号和第一控制信号；信号变化检测模块，用于对信号处理模块保持的信号和第一控制信号进行减法处理；异常判断模块，用于设定电压阈值并判断减法后的信号是否正常。本发明集成电路的测试系统可及时检测出集成电路输出的第一控制信号是否异常并进行异常保护。