一种PCIE链路稳定性测试方法、装置、设备及存储介质

本申请涉及一种PCIE链路稳定性测试方法、装置、设备及存储介质，涉及芯片设计验证技术领域。其中方法包括：获取被测设备的设备信息，设备信息包含设备特性集；对被测设备循环执行预设次数的PCIE链路测试流程，得到若干设备目标特性集；将若干设备目标特性集和设备特性集进行匹配，得到匹配结果；根据匹配结果得到稳定性测试结果。本申请的技术效果是：使得PCIE链路稳定性测试更全面。