基于FPGA的光学芯片测试系统

本发明涉及光学芯片测试技术领域，具体公开了基于FPGA的光学芯片测试系统，包括光学芯片基本性能测试分析模块、光学芯片性能评级模块、光学芯片稳定性测试分析模块、光学芯片信号处理测试分析模块和数据库。通过高精度激光器与光功率计校准以及在光学芯片输出端连接光电探测器并经放大和模数转换后由FPGA采集数据，能够精确获取各测试时段的输入和输出光信号强度，从而准确计算光学增益值，这有助于深入了解光学芯片在不同时段对光信号强度的放大能力，有效提高了光学芯片测试分析的效率和准确性，减少了因芯片性能不达标而导致的系统故障风险，同时也为光学芯片的进一步优化设计提供了有价值的数据支撑。