一种基于改进YOLOv5的绝缘子缺陷检测方法

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正文
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一种基于改进YOLOv5的绝缘子缺陷检测方法
申请号:CN202411724888
申请日期:2024-11-28
公开号:CN119671962A
公开日期:2025-03-21
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于改进YOLOv5的绝缘子缺陷检测方法,基于YOLOv5算法进行改进,通过在主干网络的C3模块中引入ECA注意力机制,对通道维度上的特征进行加权计算以提高算法的特征提取能力,将YOLOv5的检测头与自适应空间特征融合模块相结合,充分利用不同尺度的特征信息进而提升模算法的检测精度,提高了检测的准确性和鲁棒性;本方法包括步骤1:获取绝缘子缺陷图像,对收集的绝缘子缺陷图像进行数据预处理,创建数据集;步骤2:按照比例随机划分出训练集、测试集和验证集三个部分;步骤3:重新构建形成改进YOLOv5网络;步骤4:网络训练;步骤5:将待测绝缘子图像输入到改进YOLOv5网络模型中,得出绝缘子及其缺陷的检测结果和目标位置信息。
技术关键词
绝缘子缺陷 注意力机制 通道 网络 图像 特征提取能力 训练集 全局平均池化 层级 计算方法 特征金字塔 上采样 尺寸 数据 插值算法 样本 融合特征
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