用于芯片设计方案的验证方法及验证装置、电子设备

本申请公开了一种用于芯片设计方案的验证方法及验证装置、电子设备。方法包括：将用于芯片设计方案验证的C代码测试激励转换为binary文件；将binary文件中的指令写入虚拟memory区间，并在虚拟PC的复位信号复位后，将binary文件中的复位向量写入至虚拟PC；在每个时钟信号，按照虚拟PC中复位向量指向的地址读取虚拟memory区间中的一条待执行指令，并基于待执行指令对芯片设计方案的DUT执行预设验证流程，其中，从DUT返回的数据存储于虚拟寄存器中；在虚拟memory区间中的全部指令均被读取完成后，根据虚拟寄存器中的数据确定对芯片设计方案的验证结果。本申请可以减少开发测试激励所花费的时间。