PCIE接口性能测试系统

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推荐专利
PCIE接口性能测试系统
申请号:CN202411730454
申请日期:2024-11-29
公开号:CN119201581B
公开日期:2025-09-12
类型:发明专利
摘要
本申请涉及一种PCIE接口性能测试系统。所述系统包括待测主板,包括PCIE接口,所述待测主板用于将各第一PCIE数据包通过所述PCIE接口写入至PCIE设备,并记录数据写入开始时间戳;在各所述第一PCIE数据包均写入成功后,记录数据写入结束时间戳;基于所述写入开始时间戳、所述写入结束时间戳以及各所述第一PCIE数据包的总大小生成所述PCIE接口的写性能测试结果;PCIE设备,用于接收各所述第一PCIE数据包,并在每一所述第一PCIE数据包接收成功后,丢掉所述第一PCIE数据包。采用本方法能够满足PCIE接口的理论带宽的测试需求。
技术关键词
PCIE接口 PCIE设备 性能测试系统 主板 校验机制 协议 主控芯片 数据 金手指 内存 读写功能 理论 硬盘 功率 尺寸
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