一种芯片快速过温测试系统及测试方法

本发明公开了一种芯片快速过温测试系统及测试方法，包括恒温控制单元、温度监测单元和数据采集与处理单元，所述恒温控制单元与温度监测单元构建连接，所述数据采集与处理单元与温度监测单元交涉连接，本发明涉及芯片测试技术领域。该芯片快速过温测试系统及测试方法，能够模拟芯片在实际应用中的高温环境，通过快速升温与精确的温度控制，全面评估芯片在高温下的性能表现，这不仅提高了测试效率，降低了测试成本，还确保了测试结果的准确性和可靠性，同时，系统能够实时监测芯片的温度变化和性能数据，为芯片的质量控制提供了有力的数据支撑，有助于提升芯片的可靠性和使用寿命。