软件测试库的更新方法、电子设备和介质

本发明涉及芯片技术领域，尤其涉及一种软件测试库的更新方法、电子设备和介质，方法包括：步骤S1、获取当前软件测试库，当前软件测试库包括N个软件测试库文件；步骤S2、获取待更新的软件测试库文件；步骤S3、基于当前软件测试库以及待更新的软件测试库文件运行预设的测试用例集合中的预设测试用例：当需要调用的Fn存在对应的Aq时调用对应的Aq，否则调用对应的Fn；步骤S4、若预设的测试用例集合中的所有预设测试用例均测试通过，则将{A1,A2,...,Aq,...,AQ}更新至{F1,F2,...,Fn,...,FN}中。本发明提高了软件测试库更新的可靠性，进而提高了芯片测试效率。