一种RISC-V DSP芯片ATE测试程序优化方法、系统和存储介质

本发明提供了一种RISC‑V DSP芯片ATE测试程序优化方法、系统和存储介质，首先，判断第一模块序列和第二模块序列中是否存在相同模块，若是，则提取第一模块序列中的第一模块信息和第二模块序列中的第二模块信息；然后，根据第一模块信息的第一配置参数和第二模块信息的第二配置参数，确定芯片测试的功能验证模式；最后，根据第一模块序列或第二模块序列，按照对应的功能验证模式，生成第一波形信息；通过分析功能测试所应用的模块，自动生成测试波形的方式，降低测试人员的人工工作，提高测试效率和降低出错率。