一种新型DRAM高温低温测试方法

本发明涉及DRAM高温低温测试技术领域，且公开了一种新型DRAM高温低温测试方法，包括管道、降温鳍片、新型控制器控制器、废气利用模块和自动化台面，管道为核心部件，外部与空压机通过气管相连，内部通过降温鳍片与测试结构相连，测试结构上有温度传感器，将信号传给新型控制器控制器。该新型DRAM高温低温测试方法，首次将涡流原理利用到DRAM测试机上。不需要任何制冷剂，可连续工作，没有污染源没有旋转部件，不会产生回转效应，没有滑动部件是一种固体片件，工作时没有震动、噪音、寿命长，安装容易，无需供电仅需提供压缩空气即可制冷，而压缩空气是自动化台面均必备的输入资源，故在所有台面上均可顺利安装使用。