一种3D自动光学检查方法及系统

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一种3D自动光学检查方法及系统
申请号:CN202411739354
申请日期:2024-11-29
公开号:CN119901202A
公开日期:2025-04-29
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种3D自动光学检查方法及系统,涉及光学检查技术,包括:利用相机和光机组成3D成像系统进行系统标定;控制光机分别顺序投影1张全白、1张全黑,M张互补格雷码黑白条纹,N张正弦相移条纹的光栅图片,并利用相机采集图片;对于任一光机,使用相机采集到的N张正弦相移条纹光栅计算包裹相位值;对格雷码黑白条纹计算相位周期编码;利用系统几何约束,将包裹相位沿着参考平面相位图展开,得到展开相位图;利用三角法原理,计算获得物体点云;重复任一光机的上述过程,对点云深度取平均值,得到最终点云。本申请采用互补格雷码和高频相移光栅图像,和基于几何约束的相位计算算法,用少量光栅图片实现高精度三维测量。
技术关键词
自动光学检查方法 互补格雷码 包裹相位 条纹 三角法原理 光栅 控制设备 解码算法 自动光学检查系统 光学检查技术 图片 周期 相机外部参数 格雷码解码 编码 系统设备 坐标系 成像 点云
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