一种全自动芯片高效测试设备

本发明涉及芯片测试技术领域，具体涉及一种全自动芯片高效测试设备，包括机台；机台设有多个测试模块；测试模块包括底座以及测试台；测试台沿周面方向依次设有第一平面、第二平面、第三平面以及第四平面；第一平面、第二平面以及第三平面均设有测试板；测试板设有多个测试座；测试座设有夹持组件；底座设有用于驱动夹持组件打开的驱动组件。本发明通过在机台上设置多个测试模块，每个测试模块中均设置有测试台，并且测试台设置有第一平面、第二平面以及第三平面，第一平面、第二平面以及第三平面均设置有测试板，使得测试台能够通过夹持组件放置多个芯片，通过这种多面装有测试板的方式，极大提高了空间利用率和大大地提高了测试效率。