一种内存泄露检测方法、电子设备及存储介质

AITNT
正文
推荐专利
一种内存泄露检测方法、电子设备及存储介质
申请号:CN202411803195
申请日期:2024-12-10
公开号:CN119396697B
公开日期:2025-05-13
类型:发明专利
摘要
本申请实施例提供了一种内存泄露检测方法、电子设备及存储介质,涉及内存管理技术领域,方法包括:获取待检测源码;对待检测源码进行遍历,确定待检测源码中的目标消息处理类;针对每一目标消息处理类,确定该目标消息处理类对应的目标消息处理对象;基于各目标消息处理对象的调用关系,确定各目标消息处理对象的引用计数;一个目标消息处理对象的引用计数表示该目标消息处理对象被引用的次数;基于各个目标消息处理对象的引用计数,生成内存泄露的检测结果;检测结果包括:存在内存泄露的消息处理对象,可以提高内存泄露检测的准确性。
技术关键词
消息 对象 内存泄露检测方法 芯片系统 计算机程序代码 遍历方法 电子设备上执行 计算机程序产品 内存管理技术 延迟方法 回调方法 处理器 节点 指令 新项目 判断方法
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号