用于检测切片的去除重复框方法、存储介质和电子设备

本发明公开了一种用于检测切片的去除重复框方法、存储介质和电子设备，涉及图像处理技术领域，所述用于检测切片的去除重复框方法包括：获取目标图像，并对目标图像进行切片处理，得到目标图像的多个子图像；对各子图像进行目标检测，得到各子图像的子图检测结果及各子图像的第一特征图；对目标图像进行目标检测，得到目标图像的全图检测结果及目标图像的第二特征图；从各子图检测结果和全图检测结果中获取边长大于预设边长阈值的目标框，并从所获取的目标框中确定第二目标框；将各子图像的第一集合和目标图像的第二集合输入预先训练的去重模型，得到去重模型输出的第三目标框。应用本发明实施例提供的方案能够去除重复的目标框。