调试口使能中非易失性存储器程序保护与更新方法及方法

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正文
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调试口使能中非易失性存储器程序保护与更新方法及方法
申请号:CN202411806671
申请日期:2024-12-10
公开号:CN119646827A
公开日期:2025-03-18
类型:发明专利
摘要
本发明涉及计算机存储技术领域,公开了一种调试口使能中非易失性存储器程序保护与更新方法及系统,所述保护方法包括:启动安全保护,通过调试接口向芯片的电可擦编程只读存储器EEPROM的安全保护字中写入特征值;读取并判断所述安全保护字中是否为特征值,实现调试接口在非易失性存储器eFlash中除最后1个字以外的访问限制;所述更新方法包括:通过调试接口访问非易失性存储器eFlash最后1个字的地址以擦除所述非易失性存储器eFlash整个空间;通过调试接口向所述电可擦编程只读存储器EEPROM的降级标志字中写入特征值;读取并判断所述降级标志字是否为特征值,将所述安全保护字和所述降级标志字重新写回初始值并复位芯片,实现易失性存储器程序的保护和更新。
技术关键词
非易失性存储器 更新方法 特征值 标志 芯片 接口 程序 调试工具 存储访问控制 计算机存储技术 复位单元 存储结构 地址映射关系 保护方法 编程 时序
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