一种LCD显示面板质量检测方法

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正文
推荐专利
一种LCD显示面板质量检测方法
申请号:CN202411815521
申请日期:2024-12-11
公开号:CN119295450B
公开日期:2025-03-28
类型:发明专利
摘要
本发明涉及图像处理技术领域,具体涉及一种LCD显示面板质量检测方法,该方法包括:采集LCD屏幕图像;根据图像中各像素点的灰度值获得各像素点的邻域近似点的第二像素点序列;根据第二像素点序列之间的距离获得源点特征显著度,进而获得特征像素点及特征像素点的影响区域;根据影响区域内像素点以及第二像素点的数量获得影响区域权重;根据特征像素点的影响区域的各像素点的灰度值获得离散信息分布随机程度以及细节信息变化程度,结合影响区域权重和源点特征显著度获取各预设尺度的优选程度;根据优选程度进行显著性检测,获得缺陷的标注结果。本发明可实现对LCD显示面板的质量检测,提高检测精度。
技术关键词
像素点 LCD显示面板 邻域 Mura缺陷 动态时间规整 屏幕 显著性检测算法 序列 图像处理技术 统计特征 密度 指数 线性 矩形 精度
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