基于深度学习的云制造质量控制与缺陷预测方法及系统

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基于深度学习的云制造质量控制与缺陷预测方法及系统
申请号:CN202411816171
申请日期:2024-12-11
公开号:CN119648062B
公开日期:2025-11-04
类型:发明专利
摘要
本发明涉及云制造技术领域,具体涉及基于深度学习的云制造质量控制与缺陷预测方法及系统。本方法包括以下步骤:通过数据采集设备,获取制造过程中的生产现场数据并上传至云端进行下一步分析;提取所述生产现场数据的信息特征并进行特征融合,获得信息数据特征集;构建联合深度学习预测模型,利用所述信息数据特征集训练所述联合深度学习预测模型;通过训练好的联合深度学习预测模型完成云制造质量控制与缺陷预测。本发明通过提取生产现场数据的多种特征,再训练联合深度学习预测模型,进而完成云制造质量控制与缺陷预测,解决了制造过程中的质量问题和缺陷预测问题,有效提高生产效率、优化产品质量,并推动制造过程的智能化和自动化升级。
技术关键词
联合深度学习 缺陷预测方法 缺陷类别 缺陷预测系统 数据采集设备 卷积神经网络提取 统计特征提取 输入设备 主成分分析法 数值 样本 图像 存储器 高层次 云端 处理器 线型 程序
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