一种芯片算力测试方法、装置和存储介质

本说明书实施例提供了一种芯片算力测试方法、装置和存储介质，其中，所述方法包括：确定待测试芯片的测试环境，在所述测试环境中芯片需求算力按照预设规则变化；在所述测试环境中，运行所述待测试芯片；针对运行中的待测试芯片，采集所述待测试芯片的第一变化数据、第二变化数据、过程延迟和准确率，其中所述第一变化数据用于表征芯片温度随时间变化的数据，所述第二变化数据用于表征输出算力随时间变化的数据；以及根据所述待测试芯片的第一变化数据、第二变化数据、过程延迟和准确率，对所述待测试芯片的算力波动程度进行评价。本申请提供的技术方案解决了现有技术很难真实反映芯片的真实性能，并降低了芯片测评的准确度的问题。