非均匀径向采样的图像重建方法、装置、成像系统及介质

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非均匀径向采样的图像重建方法、装置、成像系统及介质
申请号:CN202411818791
申请日期:2024-12-11
公开号:CN119762609A
公开日期:2025-04-04
类型:发明专利
摘要
本发明提供了一种非均匀径向采样的图像重建方法、装置、成像系统及介质,所述方法为获取非均匀径向采样的初始k空间数据,基于非均匀径向采样类型,得到与非均匀径向采样类型对应的密度补偿修正函数后,基于非均匀径向采样类型对应的密度补偿修正函数及密度补偿修正函数在相同非均匀径向采样类型下对应的基础密度补偿函数得到初始k空间数据的密度补偿函数,并基于初始k空间数据的密度补偿函数对初始k空间数据进行的密度补偿得到补偿后的k空间数据,以及基于补偿后的k空间数据和预设重建算法生成磁共振图像。本发明能有效降低非均匀径向采样的密度补偿计算复杂度,提高补偿计算速度,进而在保证磁共振图像重建质量的同时,提升重建效率。
技术关键词
辐条 密度 生成磁共振图像 笛卡尔 成像控制器 磁共振图像重建 磁共振成像系统 图像重建方法 坐标 重建算法 轨迹 视野 采样点 存储计算机程序 基础 存储器 处理器
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