一种芯片检测装置

本发明公开了一种芯片检测装置，包括底座、检测平台、检测组件以及推料组件，检测平台活动连接于底座，并具有一承载面，检测组件相对承载面设置，并与底座滑动连接，检测组件具有靠近承载面的第一状态及远离承载面的第二状态，推料组件具有一推料面，推料面滑动抵接于承载面，并能够沿承载面往返运动。本发明能解决因在完成检测工序后需要人工对芯片进行拿取操作，从而导致芯片检测生产的效率低的问题。