一种保护电路、测试模式保护方法和芯片

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一种保护电路、测试模式保护方法和芯片
申请号:CN202411822092
申请日期:2024-12-11
公开号:CN119849401A
公开日期:2025-04-18
类型:发明专利
摘要
本公开提供一种保护电路、测试模式保护方法和芯片,包括:随机数发生电路,生成若干随机数;控制逻辑电路,根据若干随机数,确定写入的防攻击验证数据,并确定读取熔丝数据和已写入的防攻击验证数据的读取顺次;计数逻辑电路,根据所述若干随机数中的任一随机数进行计时处理,并在计时时长达到对应时长时,根据读取顺次读取熔丝数据和已写入的防攻击验证数据;判断逻辑电路,根据写入的防攻击验证数据,与读取到的已写入的防攻击验证数据是否一致,以及读到的熔丝数据是否为表示锁定状态的值,确定是否进入测试模式。据此,增加了攻击难度,即使某次攻击成功修改了熔丝数据,验证步骤也会检测到异常并阻止进入测试模式,从而有效保护数据。
技术关键词
非易失性存储器 熔丝 测试模式保护方法 数据 判断逻辑电路 待测电路 数值 代表 控制电路 芯片 计数器 标记 信号
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