VCSEL芯片的测试数据处理方法以及装置

本申请涉及一种VCSEL芯片的测试数据处理方法以及装置。该方法包括：构建一初始芯片多任务融合模型；获取直接或间接表征VCSEL芯片高速性能的多种不同类型的实测数据；将多种不同类型的实测数据导入初始芯片多任务融合模型，以分析各实测数据之间的线性或非线性关系，并持续迭代更新初始芯片多任务融合模型，得到已训练的芯片多任务融合模型；获取待检测VCSEL芯片的部分性能测试数据，将部分性能测试数据输入至已训练的芯片多任务融合模型。采用本方法能够高效性地、准确性地根据分析的部分性能测试数据之间的线性关系输出待检测VCSEL芯片的目标性能预测数据或根据分析的部分性能测试数据之间的非线性关系输出待检测芯片的性能等级。