晶圆表面质量检测方法和系统、设备、存储介质及计算机程序产品
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晶圆表面质量检测方法和系统、设备、存储介质及计算机程序产品
申请号:
CN202411822577
申请日期:
2024-12-11
公开号:
CN119784691A
公开日期:
2025-04-08
类型:
发明专利
摘要
一种晶圆表面质量检测方法和系统、设备、存储介质及计算机程序产品,方法包括:获取晶圆表面的中间区域的切割道的第一图像、以及边缘区域的切割道的第二图像;对比第一图像和第二图像中切割道的颜色差异;基于切割道的颜色差异,判断晶圆表面的表面质量水平。本发明有利于提高产品良率。
技术关键词
表面质量检测方法
晶圆
计算机程序产品
颜色
表面质量检测系统
色差
图像获取模块
人工智能技术
指令
处理器
存储器
良率
沪ICP备2023015588号