晶圆表面质量检测方法和系统、设备、存储介质及计算机程序产品

AITNT
正文
推荐专利
晶圆表面质量检测方法和系统、设备、存储介质及计算机程序产品
申请号:CN202411822577
申请日期:2024-12-11
公开号:CN119784691A
公开日期:2025-04-08
类型:发明专利
摘要
一种晶圆表面质量检测方法和系统、设备、存储介质及计算机程序产品,方法包括:获取晶圆表面的中间区域的切割道的第一图像、以及边缘区域的切割道的第二图像;对比第一图像和第二图像中切割道的颜色差异;基于切割道的颜色差异,判断晶圆表面的表面质量水平。本发明有利于提高产品良率。
技术关键词
表面质量检测方法 晶圆 计算机程序产品 颜色 表面质量检测系统 色差 图像获取模块 人工智能技术 指令 处理器 存储器 良率
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号