一种基于BP神经网络的IGBT老化预测方法及系统

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一种基于BP神经网络的IGBT老化预测方法及系统
申请号:CN202411823147
申请日期:2024-12-11
公开号:CN119761288A
公开日期:2025-04-04
类型:发明专利
摘要
一种基于BP神经网络的IGBT老化预测方法及系统,方法包括:S1、工作中的IGBT输出多个不同的电气数据;S2、信号采集和处理模块对不同的电气数据进行采集和处理,得到处理后的电气数据;S3、利用处理后的电气数据对BP神经网络模型进行训练;将训练后的BP神经网络模型输入到嵌入式智能处理模块中;S4、利用嵌入有BP神经网络的智能处理模块对IGBT进行老化预测,得到预测误差,判断预测误差是否小于预设误差,是则输出预测结果;否则,循环S3至S4,直至预测误差小于预设误差,并输出预测结果。本发明用于对IGBT的老化进行评估,为延长系统寿命、增强系统可靠性提供了保障。
技术关键词
老化预测方法 IGBT集电极 嵌入式智能 预测误差 电流内环控制 电气 BP神经网络模型 机通信电路 传感器阵列 神经网络训练 采集电路 指数 节点 控制模块 数据分析效率
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