一种基于层次聚类算法的回归测试辅助debug方法、装置及介质

本发明涉及芯片涉及领域，具体是一种基于层次聚类算法的回归测试故障debug方法、装置及介质。本发明支持设定时间进行回归测试结果检查、统计回归log报错信息、支持设定时间提前打开待debug波形。基于层次聚类算法进行错误信息分类，假设有n条错误信息，将n条错误信息视为n个待聚类样本，计算各个样本之间的相似度，将相似度最近的聚类样本归为一类，重复进行，直至将n个聚类样本归类完成。本发明可有效降低验证工程师在验证过程中数据对比提取error field时间，可以将所有的报错情况统计出来，并可以预先根据设定的时间将波形准备好，减少工程师工作时间的耗费，有效的提升debug速度，提升工作效率。