一种基于强化学习的推扫辐射计天线方向图优化方法

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一种基于强化学习的推扫辐射计天线方向图优化方法
申请号:CN202411826942
申请日期:2024-12-12
公开号:CN119830710A
公开日期:2025-04-15
类型:发明专利
摘要
本发明提供了一种基于强化学习的推扫辐射计天线方向图优化方法,包括:步骤S1,初始化智能体和环境;步骤S2,初始化网络输入和网络输出;步骤S3,选择天线方向图评价指标:天线方向图评价指标包括主波束效率、主波束宽度、旁瓣高度以及与理想天线方向图的差异;步骤S4,构建深度神经网络:深度神经网络设计为卷积神经网络与深层神经网络相结合的结构;步骤S5,训练深度神经网络;步骤S6,获得网络优化后的天线方向图。本发明的优化方法能够压低旁瓣电平,提高主波束效率,从而提高系统探测精度。
技术关键词
辐射计 天线 构建深度神经网络 训练深度神经网络 馈源阵列 主波束 卷积神经网络提取 网络优化 像素矩阵 指标 因子 参数 非线性 通道 电平 精度
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