一种离线MCU检测器及检测方法

本发明提供一种离线MCU检测器，涉及数字集成电路测试技术领域，其主要结构为：输入单元用于发送指令至主控制器；主控制器用于实现对输入指令的处理，用于向FLASH写入和读取测试代码和FPGA的配置信息、用于向FPGA写入配置信息和通过FPGA向被测MCU器件写入测试代码，还用于读取FPGA的测试结果；FLASH用于存储测试代码和FPGA的配置信息；FPGA用于向被测MCU器件发送测试激励和读取被测MCU器件返回的信号；输出显示单元用于接收主控制器的信号并显示测试结果。本发明还提供了一种离线MCU检测方法。本发明能在低成本的情况下快速的满足工作人员的现场测试需求，简化测试流程。