坐标测量机和坐标测量方法

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坐标测量机和坐标测量方法
申请号:CN202411828548
申请日期:2024-12-12
公开号:CN119533287A
公开日期:2025-02-28
类型:发明专利
摘要
本发明公开一种坐标测量机和坐标测量方法,坐标测量机包括机架、工作台、移动架和测量组件,工作台设置在机架并用于放置待测工件;测量组件包括激光扫描测头和接触式测量头,激光扫描测头和接触式测量头均设置在移动架上,激光扫描测头用于对待测工件进行非接触式三维扫描测量,接触式测量头用于对待测工件进行接触式精密测量;其中,移动架能够相对待测工件移动,以带动接触式测量头与待测工件接触进行测量,或带动激光扫描测头在不接触待测工件的情况下进行扫描测量。本发明技术方案通过在同一台坐标测量机上集成激光扫描测头和接触式测量头,实现了非接触式快速扫描和接触式精密测量的无缝切换,大幅提高了测量的灵活性和效率。
技术关键词
坐标测量方法 激光扫描测头 待测工件 坐标测量机 三角网格模型 数据 点云 采样点 加权最小二乘算法 移动架 工作台 空间聚类算法 重采样技术 生成高密度 非接触式 策略 机架 密度算法
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