软件缺陷报告的分析方法、装置、存储设备及电子设备

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软件缺陷报告的分析方法、装置、存储设备及电子设备
申请号:CN202411832470
申请日期:2024-12-12
公开号:CN119829431A
公开日期:2025-04-15
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种软件缺陷报告的分析方法、装置、存储设备及电子设备,涉及人工智能领域。其中,该方法包括:获取目标缺陷报告,其中,目标缺陷报告用于记录软件的缺陷信息;根据满足预设条件的目标特征参数组合,从目标缺陷报告中提取得到至少一个目标特征,并将每个目标特征转换为目标特征向量,其中,预设条件用于确定在对目标缺陷报告进行特征提取时选择的特征参数;将目标特征向量输入至目标模型中,通过目标模型确定目标特征向量的概率密度值,并依据概率密度值确定目标缺陷报告的分析结果。本申请解决了现有技术中依赖人工审核检测用户缺陷报告中的安全性缺陷导致安全性缺陷检测准确性低的技术问题。
技术关键词
软件缺陷报告 分析方法 高斯分布模型 神经网络模型 可读存储介质 存储设备 电子设备 计算机程序产品 特征值 算法 依赖人工 分析装置 处理器 指令 存储器
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