一种芯片测试的方法、系统、介质及设备

本发明公开了一种芯片测试的方法、系统、介质及设备，涉及芯片测试电数字数据处理技术领域。该方法，包括以下步骤：根据芯片第一性能对比分析结果对芯片判断进行老化测试或返修；根据芯片第二性能对比分析结果判断确定芯片老化测试流程或返修；根据芯片第三性能对比分析结果判断确定芯片老化测试结果层级。本发明通过分别对动态随机存取存储器芯片进行性能评估分析、稳定性分析评估和综合测试分析评估，根据分析评估结果与对应阈值的对比分析综合判断芯片老化测试结果层级，达到了提高动态随机存取存储器芯片老化测试评估判断准确性的效果，解决了现有技术中存在对于动态随机存取存储器芯片老化测试评估判断准确性不足的问题。