一种地质勘探采样装置及采样分析方法

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正文
推荐专利
一种地质勘探采样装置及采样分析方法
申请号:CN202411834687
申请日期:2024-12-13
公开号:CN119293710B
公开日期:2025-02-25
类型:发明专利
摘要
本发明涉及地质勘探采样分析技术领域,具体涉及一种地质勘探采样装置及采样分析方法。本发明首先获取目标采样位置的地质勘探数据;进一步获取目标采集时刻的局部时域窗口;进一步获取每个采集时刻在局部时域窗口的局部速度变化率、岩层层数、扭矩累积参数,并以采样时刻的时序顺序构成目标采样位置的特征向量;进一步根据目标采样位置的特征向量与其他采样位置的特征向量的差异特征,结合目标采样位置与其他采样位置之间的距离,获取目标采样位置的数据异常系数;最后根据所有采样位置的数据异常系数的离群分布特征,筛选出异常采样位置。
技术关键词
地质勘探采样装置 地质勘探数据 分析岩层 采样分析方法 速度 分布特征 参数 分层 LOF算法 DTW算法 时序 端点 因子 曲线
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