切割方法、半导体结构以及芯片

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切割方法、半导体结构以及芯片
申请号:CN202411836885
申请日期:2024-12-12
公开号:CN119764257A
公开日期:2025-04-04
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种切割方法、一种半导体结构以及一种芯片。所述切割方法中,在基板的第二区域形成第一沟槽并填充第一介质层,再在第一沟槽内的第一介质层内形成第二沟槽,通过形成第一沟槽,将基板原本位于第一沟槽区域的结构去除,所述结构可以是复杂结构且可包括不同种材质,在形成所述第二沟槽时,第一沟槽区域仅刻蚀第一介质层,相较于直接去除第二区域的结构以形成沟槽,适用于基板不同切割区域材质,可降低切割难度,且有助于减少切割过程对基板的破坏性及污染,提高切割质量。所述半导体结构和所述芯片可采用上述切割方法形成,所述半导体结构和所述芯片受到的破坏性及污染小,所述半导体结构和所述芯片的质量较高。
技术关键词
切割方法 半导体结构 介质 基板 等离子切割工艺 导电焊盘 激光切割工艺 芯片 沟槽区域 衬底 沟槽表面 层区域 正面 熔渣 基底
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