大规模芯片代码覆盖率获取方法、电子设备和介质

本发明涉及芯片技术领域，尤其涉及一种大规模芯片代码覆盖率获取方法、电子设备和介质，方法包括步骤S1、构建不同的测试集群；步骤S2、为Giq设置验证配置信息、测试参数及待验证接口集合；步骤S3、并行基于每一Aiq生成对应的文件列表，并编译产生对应的可执行文件Fiq；步骤S4、并行将Biq传输给Giq中的测试用例，基于Fiq执行对应的验证操作，获取Giq已翻转待验证接口集合Eiq；步骤S5、当Gq全部执行完毕后，获取Gq对应的所有Eiq的并集GEiq；步骤S6、当所有Gq全部执行完毕后，获取所有GEiq的并集GE，基于GE和GD确定大规模芯片代码覆盖率。本发明能够准确快速获取大规模芯片代码覆盖率。