一种二维纳米材料的快速检测方法

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一种二维纳米材料的快速检测方法
申请号:CN202411839120
申请日期:2024-12-13
公开号:CN119757431A
公开日期:2025-04-04
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种二维纳米材料的快速检测方法,涉及二维纳米材料检测技术领域;为了提高检测效率;包括以下步骤:利用改性无机物质作为基础,结合石墨烯或还原氧化石墨烯,并进行功能化修饰以带电;利用X射线衍射和透射电子显微镜确定基础无机物质的晶体结构和石墨烯/rGO的层数与形态;利用电化学工作站进行循环伏安法监测,使用pH计和离子色谱仪监测溶液变化,以及进行电导率测试。本发明通过X射线衍射(XRD)、透射电子显微镜(TEM)和X射线光电子能谱(XPS)等技术手段,能够迅速且准确地确定二维纳米材料的晶体结构、层数与形态以及表面的元素组成和化学态,提高检测效率。
技术关键词
二维纳米材料 快速检测方法 透射电子显微镜 电化学工作站 离子色谱仪 循环伏安法 还原氧化石墨烯 X射线光电子能谱 形态 高分辨率成像 显微镜技术 机器学习算法 待测材料 电极系统 记录材料 X射线源 辅助电极 二维材料 溶液
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沪ICP备2023015588号