元器件测试数据采集方法、装置和系统

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推荐专利
元器件测试数据采集方法、装置和系统
申请号:CN202411840350
申请日期:2024-12-12
公开号:CN119846344A
公开日期:2025-04-18
类型:发明专利
摘要
本申请适用于元器件测试技术领域,提供了元器件测试数据采集方法、装置和系统。元器件测试数据采集方法包括:获取放置于测试仪器上的元器件的测试数据,基于测试数据确定变异系数,基于变异系数确定元器件是否处于稳定状态,当元器件处于稳定状态时,获取目标测试数据,其中,测试数据包括目标测试数据。可以自动采集已夹稳的元器件的测试数据,有效降低操作员的工作量并提升了产品测试效率。
技术关键词
测试数据采集方法 元器件 测试数据采集系统 测试仪器 计算机设备 亮灯 测试数据采集装置 产品测试效率 计算机程序产品 光电传感器 机械臂 生成电信号 夹具 可读存储介质 处理器 指示灯 模块 存储器
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