一种适用于任意关键件复杂曲面的接触分析方法

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一种适用于任意关键件复杂曲面的接触分析方法
申请号:CN202411840358
申请日期:2024-12-13
公开号:CN119722988B
公开日期:2025-09-09
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种适用于任意关键件复杂曲面的接触分析方法,包括以下步骤:S1:通过测量仪器获取曲面 m×n 三维点集数据,构建数字化曲面网格模型;S2:提出以两曲面十字点集间最小距离为迭代目标的粗接触状态求解方法;S3:建立基于线性插值的三维网格点集插值方法;S4:基于更精细的曲面网格与粗接触时刻两曲面相对位置进行细接触状态求解;解决目前复杂曲面表达式获取困难、设计参数与接触状态关联规律不清晰以及现有设计方法无法准确分析复杂曲面接触状态,不能精准地描述复杂曲面接触状态,不能很好的帮助优化设计和制造关键零部件的问题。
技术关键词
曲面 接触分析方法 网格模型 机器学习算法 插值方法 接触点 重构算法 分析奠定基础 坐标 激光测量仪 线性插值法 插值模型 激光扫描仪 方程 表达式 数据 测量误差 两点 阶段
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