基于射线投影的顶头表面缺陷检测方法及系统

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基于射线投影的顶头表面缺陷检测方法及系统
申请号:CN202411842646
申请日期:2024-12-13
公开号:CN119672007A
公开日期:2025-03-21
类型:发明专利
摘要
本发明提供基于射线投影的顶头表面缺陷检测方法及系统,方法包括:原始点云数据降采样;点云分割;射线投影计算深度图像;基于深度图进行缺陷检测。本发明解决了点云空间三维信息利用不充分、去噪效果差、顶头缺陷检测的可靠性及便利性低的技术问题。
技术关键词
表面缺陷检测方法 射线 表面缺陷检测系统 顶头 点云 深度图 区域计算方法 数据 分辨率 代表 图像生成方法 图像处理模块 基准面 断面轮廓 投影模块 计算中心 密度 坐标
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