基于深度学习的参数标定方法、设备及高反面形检测仪

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推荐专利
基于深度学习的参数标定方法、设备及高反面形检测仪
申请号:CN202411849859
申请日期:2024-12-16
公开号:CN119879775A
公开日期:2025-04-25
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种基于深度学习的参数标定方法、设备及高反面形检测仪,方法包括:获取训练数据集,训练数据集包括多个样本数据,多个样本数据皆包括被测物的第一高度数据和被测物的相位数据,第一高度数据表征高反面形检测仪的载物平面的高度,载物平面用于放置被测物,相位数据表征被测物的相位,第一高度数据与相位数据对应;以高反面形检测仪的待标定参数作为模型参数,构建初始神经网络模型,初始神经网络模型的目标函数用于基于输入的相位数据,输出第二高度数据,第二高度数据表征高反面形检测仪的预测高度;利用训练数据集对预设的初始神经网络模型进行训练处理,得到目标神经网络模型;以目标神经网络模型的模型参数作为目标标定参数。
技术关键词
参数标定方法 神经网络模型 数据 特征提取模块 检测仪 空间金字塔池化 拼接模块 条纹投影 相机 样本 解码模块 残差模块 电子设备 坐标系 输出模块 矩阵 成像 重构 积层
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