基于电路分布参数自适应辨识的测量阻抗校正方法及设备

本发明涉及一种基于电路分布参数自适应辨识的测量阻抗校正方法及设备，所述方法包括以下步骤：获取测量电路对两个已知阻值的精密电阻R1和R2进行设定激励频率下的阻抗测量得到的两个幅值Z1和Z2；基于幅值Z1，采用简化电路模型，得到分布电容C0的值，并基于幅值Z2，采用全局概率搜索算法得到分布电容C1和C2的值；基于所述分布电容C0、C1和C2构建测量电路对应的测量电路模型；根据所述测量电路模型，对直接得到的测量阻抗采用全局优化算法进行校正。与现有技术相比，本发明具有能够有效提高测量性能等优点。