一种石英晶片的测试装置及方法

本发明提供一种石英晶片的测试装置及方法，涉及晶片测试技术领域，包括：测试平台，测试平台上设有用于放置待测试石英晶片的定位座，测试平台用于在水平面上调整定位座的位置；图像识别装置，设于测试平台的上方，用于对待测试石英晶片进行图像识别定位；一对测试臂，两个测试臂分别设于测试平台的两侧，测试臂的前端设有用于测试石英晶片的探针，测试臂用于根据图像识别装置的识别结果调节探针的位置。有益效果是提高了测试的自动化程度，进一步减少了测试所需的时间，确保每次测试时探针都能以统一且准确的位置接触晶片，减少了测试误差，降低了测试成本，还提高了测试效率，使得测试装置能够轻松应对多种规格晶片的测试任务。