一种多芯片测试方法、系统、半导体测试装置及计算机程序产品

本申请适用于芯片测试技术领域，提供了一种多芯片测试方法、系统、半导体测试装置及计算机程序产品，包括：检测到多个待测试芯片中有目标芯片输出目标数据，则发送目标芯片对应的目标中断信号至主控模块；在主控模块基于目标中断信号完成一次目标数据的采集后，将目标中断信号对应的中断完成信号写入中断完成文件；在通信模块空闲的情况下，从中断完成文件中按预设顺序取出中断完成信号；根据中断完成信号对通信模块进行通信配置，使得主控模块通过控制通信模块发送对应的目标数据至上位机。本申请所提供的方法，实现了在多芯片测试中实现低成本、高效的数据采集与传输，同时提高多芯片测试的扩展性。