晶圆缺陷检测方法、装置、设备、介质及产品

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晶圆缺陷检测方法、装置、设备、介质及产品
申请号:CN202411857669
申请日期:2024-12-17
公开号:CN119780121B
公开日期:2025-11-21
类型:发明专利
摘要
本公开实施例公开了一种晶圆缺陷检测方法、装置、设备、介质及产品,包括:获取待检测晶圆图像;所述待检测晶圆图像中包括纹理和缺陷;根据预设纹理识别算法对所述待检测晶圆图像的纹理进行识别,得到纹理识别结果;根据所述纹理识别结果确定所述缺陷的检测结果。本技术方案通过根据预设纹理识别算法对待检测晶圆图像的纹理进行识别,进而确定晶圆缺陷检测结果,消除纹理对晶圆缺陷识别的影响,提高了晶圆表面晶圆缺陷检测的准确性和识别效率,提升产品的良率。
技术关键词
纹理识别算法 晶圆缺陷检测方法 参数 机器学习算法 图像处理 晶圆缺陷检测装置 图像采集设备 计算机程序产品 灰阶 图像采集单元 图像获取模块 尺寸 处理器通信 识别模块
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