一种芯片功能的测试方法、测试控制模块、设备及装置

本发明公开了一种芯片功能的测试方法、测试控制模块、设备及装置，当待测芯片释放上电复位信号并结束上电复位状态时，通过待测芯片的JTAG接口对测试控制模块进行测试相关配置，并控制待测芯片和自动化测试设备建立同步状态，对待测芯片进行测试并输出测试结果。本技术方案基于在芯片设计阶段中添加测试控制模块，使得自动化测试设备可依据自动化测试向量直接向待测芯片提供外部复位和外部时钟的方式建立两者的同步状态，使芯片功能测试能够满足自动化测试设备同步测试方法的要求，能够快速地在自动化测试设备上实现多种功能测试，有效提高了功能测试自动化程度、测试效率和稳定性。