RISC-VDSP芯片的RTL批量测试的优化方法、系统及介质

本申请实施例提供了一种RISC‑VDSP芯片的RTL批量测试的优化方法、系统及介质，该方法包括：通过GUI选择被测项目，基于被测项目生成测试项集合文件夹；基于测试项集合文件夹内的测试用例，分析测试用例所在的根目录；遍历测试用例所在的根目录，产生快照，记录所有的测试项，得到测试集；基于测试集将测试集内的所有的测试项对RISC‑VDSP芯片的RTL进行批量测试，得到测试过程数据与测试结果；当测试集全部运行完后，得到测试日志，基于测试日志生成汇总信息，将汇总信息归档并实时传输至终端；通过遍历所有的测试项目，对测试项目进行批量测试，提高测试效率。